Metody statystyczne w badaniu zdolności systemów pomiarowych oraz w sterowaniu procesami – MSA + SPC

Badanie zdolności systemów pomiarowych oraz statystyczne sterowanie procesami – MSA + SPC

 

 Cel Szkolenia:

Celem szkolenia jest przygotowanie uczestników do przeprowadzenia skutecznej analizy systemów pomiarowych zarówno przy ocenie liczbowej jak i atrybutowej. Jakość systemu pomiarowego warunkuje jakość otrzymanych danych, co w konsekwencji prowadzi do jakości analiz, które są przeprowadzane na podstawie tych danych. Kolejnym celem kursu jest zaznajomienie uczestników z jedną z takich analiz – SPC.

Poprzez dużą liczbę praktycznych przykładów a także samodzielnych ćwiczeń obejmujących powyższe tematy, szkolenie zapewnia zrównoważoną liczbę informacji potrzebnych do samodzielnego realizowania zadań związanych z systemami MSA i SPC

Plan szkolenia

 MSA

 

1)      System MSA – podstawy i wprowadzenie.

 

Przegląd pojęć i terminów związanych z MSA,

Cel badania zdolności systemów pomiarowych,

Zagadnienia związane z badaniem zdolności wyposażenia pomiarowego,

Potrzeba wykonania MSA,

Konsekwencje złej analizy.

 

2)      MSA dla pomiarów liczbowych i atrybutowych.

 

Stabilność i liniowość systemu,

Powtarzalność i odtwarzalność pomiarów – analiza R&R,

Metody oceny skuteczności pomiarów,

Metoda Kappa dla pomiarów atrybutowych,

Tolerancje jednostronne i dwustronne.

 

3)      MSA – przykłady, analiza oraz interpretacja wyników.

 

Przeprowadzenie analizy MSA,

Interpretacja wyników,

Prezentacja szeregu przykładów z różnorodnych systemów pomiarowych wraz ze szczegółowym omówieniem.

 

 

SPC

 

      1)      System SPC – podstawy i wprowadzenie.

 

Potrzeba i rola sytemu SPC w nowoczesnym systemie zarządzania jakością.

Korzyści z wprowadzenia / stosowania SPC.

 

2)      Wprowadzenie do statystyki.

 

Omówienie podstawowych zagadnień ze statystyki,

Rodzaje i źródła zmienności,

Rozkład normalny – istota, przykłady, badanie rozkładu,

 

3)      Metody monitorowania oraz zbierania danych.

 

Zasady doboru kart w zależności od charakteru procesu produkcyjnego,

Karty kontrolne dla danych mierzalnych,

Karty kontrolne dla danych atrybutowych,

 

4)      Obliczanie zdolności jakościowej procesu

 

Oceny zdolności jakościowej procesów,

Sposoby obliczania oraz analiza współczynników Cp, Cpk, Pp, Ppk.

Interpretacja wyników zdolności jakościowej.